Bonsoir à tous,

Ayant à faire un sujet sur les techniques de caractérisation optique des couches minces, j'aurais deux questions (si vous voudriez bien y répondre ) concernant la photoluminescence :

Si je comprends bien, la photoluminescence désigne la capacité que possède un matériau à émettre un photon après une excitation d'énergie supérieure à celle de la transition radiative. De ce fait :

1) Pourquoi chercherait-on à mesurer la photoluminescence d'une couche mince ? Quelles seraient ses applications ?

2) Par quel dispositif pourrait-on la mesurer ? S'agit-il simplement de placer un photodétecteur lors de l'émission par le matériau d'un rayonnement ?


Concernant l'ellipsomètrie : il semble que cette technique permette entre autres de mesurer l'indice de réfraction n et le coefficient d'extinction k . Pour l'indice n j'ai vu qu'on pouvait le calculer en déterminant expérimentalement l'angle de Brewster.
Mais pour ce qui est de k, comment pourrait-on procéder ?
Mon professeur m'a également dit qu'il s'agit de tracer la caractéristique n et k = f() et de les comparer à des modèles existants. Toutefois je n'ai pas saisi cette méthode.

En vous remerciant par avance pour vos réponses.

Bien cordialement.